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產品資料
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日本napson非接觸脈沖電壓激勵法超低電阻計

產品名稱: 日本napson非接觸脈沖電壓激勵法超低電阻計
產品型號: PVE-80
產品特點: 日本napson非接觸脈沖電壓激勵法超低電阻計
由于是使用脈沖電壓激勵法作為測量原理的非接觸電阻測量系統,因此可以在不損壞樣品的情況下進行測量。

日本napson非接觸脈沖電壓激勵法超低電阻計 的詳細介紹

日本napson非接觸脈沖電壓激勵法超低電阻計

 

  • 節省空間的設計主體外殼,便攜式可移動平臺

  • 通過PC(軟件)進行簡單的測量操作,數據存儲和管理

  • 測量顯示單元可以根據應用(薄層電阻,電導率,電導率)進行更改

    *本產品使用由我公司與千葉大學聯合開發的脈沖電壓激勵方法(篆隸號5386394)。

測量規格

測量目標

與新材料/功能材料相關(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)與
導電薄膜相關(金屬,ITO等)
與化合物半導體相關(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*查詢)請給我)

測量尺寸

?A4尺寸(W300 x D210mm)

測量范圍

50μ?1mΩ/平方

  • 節省空間的設計主體外殼,便攜式可移動平臺

  • 通過PC(軟件)進行簡單的測量操作,數據存儲和管理

  • 測量顯示單元可以根據應用(薄層電阻,電導率,電導率)進行更改

    *本產品使用由我公司與千葉大學聯合開發的脈沖電壓激勵方法(篆隸號5386394)。

測量規格

測量目標

與新材料/功能材料相關(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)與
導電薄膜相關(金屬,ITO等)
與化合物半導體相關(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*查詢)請給我)

測量尺寸

?A4尺寸(W300 x D210mm)

測量范圍

50μ?1mΩ/平方

日本napson非接觸脈沖電壓激勵法超低電阻計

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