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densoku渦流膜厚儀的原理分析

densoku渦流膜厚儀的原理分析

當帶有高頻電流的探頭(探針線圈)靠近金屬時,金屬表面會產生渦流。
這種渦流受高頻磁場的強度和頻率、金屬的導電性、厚度、形狀等影響,穿透深度和大小不同。
然后渦流流動以抵消探頭的高頻磁場,改變探頭的高頻電阻值。
這種高頻電阻變化的幅度一般與膜厚值不成正比。
通過參考內置或用戶創建的特性曲線(校準曲線)轉換為薄膜厚度值。

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渦流膜厚測試儀特點

  • 幾乎可以測量金屬上的所有薄膜(鋁、鋅、鉻等上的氧化膜,鐵上的電鍍和涂漆)
    或非金屬上的幾乎所有金屬薄膜(塑料上的電鍍等)。

  • 非常適合 檢查,因為它可以在短時間內(1 秒內)進行非破壞性測量。

  • 也可以測量曲面、球面、管道內表面(φ12.7 mm或更大)。

使用示例

  • 測量樹脂上的鋁薄膜。示例:應用于汽車前照燈反射器的鋁沉積(從 100 納米起)的質量控制。

  • 鋁上氧化鋁膜厚度測量

  • 鐵上鍍鋅的膜厚測量(與熒光X射線膜厚儀結合使用)

  • 陶瓷鍍鎳的厚度測量

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