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技術文章

薄膜太陽能電池用反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RT簡介

薄膜太陽能電池用反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RT

F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統。可同時測量反射率和透射率,并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數。

只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接,無需調整光學系統,無需復雜設置,而且設置非常簡單。

 

主要特點

  • 集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統
    光譜范圍廣,可選擇多種光源

  • 反射率和透射率同時測量,膜厚、折射率和可用分析能力消光系數
    標準維護時間記錄的相機測量位置

  • 放個樣品就行了。無需調整光學元件,非常容易設置

主要應用

平板 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學膜
光學鍍膜 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質涂層。
薄膜太陽能電池 CdTe、CIGS、非晶硅等

產品陣容

 

 模型

 F10-RT

-紫外線

 F10-RT

 F10-RT

-近紅外

 F10-RT

 -近紅外

 F10-RT

 -UVX

測量波長

范圍

 190 – 1100nm 380 – 1050nm  950 – 1700nm  380 – 1050nm 190 – 1700nm

膜厚測量

范圍

 1nm – 40μm 15nm – 70μm  100nm – 150μm  15nm – 150μm 1nm – 150μm

準確性

± 0.2% 薄膜厚度 ± 0.4% 薄膜厚度 ± 0.2% 薄膜厚度
1納米 2納米 3納米 2納米 1納米

光源

氘·

鹵素

鹵素

氘·

鹵素


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